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adc.c
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473a058d24
1. adc初始化区分是否是电机参数识别模式，如果参数识别模式，需要加速规则通道的采样速度
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2 jaren geleden |
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adc.h
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473a058d24
1. adc初始化区分是否是电机参数识别模式，如果参数识别模式，需要加速规则通道的采样速度
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2 jaren geleden |
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board_gd32demo.h
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5474c1f6c6
change pwm_timer to MOS_PWM_TIMER
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3 jaren geleden |
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board_mc100_v1.h
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70e9e2457d
去掉不用的hwlim.dc_vol和对应的宏定义
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2 jaren geleden |
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board_mc105_v3.h
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9a922b4490
更新TDead(单电阻采样使用，MC系列不使用)
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2 jaren geleden |
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board_yuanqu.h
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6e838b672e
96vmode 修改未高压mode
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2 jaren geleden |
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bsp.c
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b0bb565944
在配置设备中断前先配置系统的优先级为16个抢占优先级，1个子优先级
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3 jaren geleden |
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bsp.h
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473a058d24
1. adc初始化区分是否是电机参数识别模式，如果参数识别模式，需要加速规则通道的采样速度
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2 jaren geleden |
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can.c
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617666b3e2
set mode,判断如果controller没有start，调用start
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2 jaren geleden |
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can.h
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5628460444
add can new rfid struct, but not used
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2 jaren geleden |
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enc_intf.c
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b592151f79
Z信号timer的滤波系数加大到0xF最大，尽量减少干扰，可以漏采，但是不能采错
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2 jaren geleden |
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enc_intf.h
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013294e3d2
1. 编码器Z信号使用timer处理上升沿，可以做数字滤波
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2 jaren geleden |
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fan_pwm.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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fan_pwm.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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fmc_flash.c
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426331c18c
1. 当相错误的时候，记录mc_error到flash中
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3 jaren geleden |
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fmc_flash.h
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45002af574
去掉torque table的flash读写
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2 jaren geleden |
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gd32_bkp.c
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c0686b4705
update for gd32f305
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3 jaren geleden |
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gd32_bkp.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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gd32_rtc.c
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381929ce3e
GD32 改为305
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3 jaren geleden |
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gd32_rtc.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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gpio.c
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0592bfd36a
gpio读取状态加入编码器的4线
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2 jaren geleden |
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gpio.h
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0592bfd36a
gpio读取状态加入编码器的4线
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2 jaren geleden |
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i2c.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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i2c.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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mc_irqs.c
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6ee6fdee8b
去掉backtrace，去掉jtag_debug
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2 jaren geleden |
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pwm.c
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fe6465237c
工厂测试模式进入退出，3相电流采集，udet功能
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2 jaren geleden |
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pwm.h
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fe6465237c
工厂测试模式进入退出，3相电流采集，udet功能
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2 jaren geleden |
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sched_timer.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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sched_timer.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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uart.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 jaren geleden |
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uart.h
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e24d7f2090
调整内存大小，uart减小，相电流buff减小
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2 jaren geleden |
kevin
5628460444
add can new rfid struct, but not used