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adc.c
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0be2475256
重命名ADC_SAMPLE_TIME to ADC_INSERT_SAMPLE_TIME
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2 éve |
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adc.h
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0be2475256
重命名ADC_SAMPLE_TIME to ADC_INSERT_SAMPLE_TIME
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2 éve |
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board_gd32demo.h
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5474c1f6c6
change pwm_timer to MOS_PWM_TIMER
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3 éve |
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board_mc100_v1.h
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5474c1f6c6
change pwm_timer to MOS_PWM_TIMER
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3 éve |
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board_mc105_v3.h
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30a7e82b10
1. 死区补偿暂时关闭，效果不明显
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2 éve |
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board_yuanqu.h
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5474c1f6c6
change pwm_timer to MOS_PWM_TIMER
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3 éve |
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bsp.c
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b0bb565944
在配置设备中断前先配置系统的优先级为16个抢占优先级，1个子优先级
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3 éve |
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bsp.h
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381929ce3e
GD32 改为305
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3 éve |
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can.c
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b0bb565944
在配置设备中断前先配置系统的优先级为16个抢占优先级，1个子优先级
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3 éve |
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can.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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enc_intf.c
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c0686b4705
update for gd32f305
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3 éve |
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enc_intf.h
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c0686b4705
update for gd32f305
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3 éve |
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fan_pwm.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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fan_pwm.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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fmc_flash.c
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426331c18c
1. 当相错误的时候，记录mc_error到flash中
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3 éve |
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fmc_flash.h
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426331c18c
1. 当相错误的时候，记录mc_error到flash中
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3 éve |
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gd32_bkp.c
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c0686b4705
update for gd32f305
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3 éve |
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gd32_bkp.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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gd32_rtc.c
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381929ce3e
GD32 改为305
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3 éve |
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gd32_rtc.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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gpio.c
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6c0b2bf131
MC105 V3V4的board id改为 2和1
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3 éve |
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gpio.h
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994c222641
部分工厂测试实现
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3 éve |
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i2c.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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i2c.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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mc_irqs.c
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381929ce3e
GD32 改为305
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3 éve |
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pwm.c
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cf80407556
工厂测试，支持相电流采集开启和关闭
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3 éve |
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pwm.h
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cf80407556
工厂测试，支持相电流采集开启和关闭
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3 éve |
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sched_timer.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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sched_timer.h
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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uart.c
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64dea2f061
bsp架构梳理
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3 éve |
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uart.h
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eff46e6644
1. 加入ladrc sensorless 观测器
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3 éve |
huhui
30a7e82b10
1. 死区补偿暂时关闭，效果不明显